特許
J-GLOBAL ID：200903010972117952
表皮組織定量化装置及びプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
中島 淳
, 加藤 和詳
, 西元 勝一
, 福田 浩志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-244379
公開番号（公開出願番号）：特開2008-061892
出願日： 2006年09月08日
公開日（公表日）： 2008年03月21日
要約：
【課題】表皮組織を正確に定量化する。【解決手段】コンピュータは、カメラにより撮像された画像の輝度値のばらつきが所定値以上になるように前記画像の各画素の輝度値を変換し(ステップS2)、変換された各画素の輝度値を二値化し(ステップS3)、二値化された黒画素と所定の短直線とをマッチングして、マッチングした短直線の連結によって表される皮溝を抽出し(ステップS4)、短直線の連結数が所定値以上の皮溝を主要皮溝として抽出し(ステップS5)、抽出された皮溝に基づいて、表皮組織を定量化した指標として、皮溝の平均太さ、皮溝の間隔、皮溝の平行度の少なくとも1つを算出する(ステップS6)。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
表皮組織を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段により撮像された画像の輝度値のばらつきが所定値以上になるように、前記画像の各画素の輝度値を変換する輝度値変換手段と、
前記輝度値変換手段により変換された各画素の輝度値を二値化する二値化手段と、
前記二値化手段により二値化された黒画素と所定の短直線とをマッチングして、マッチングした短直線の連結によって表される皮溝を抽出する短直線マッチング手段と、
前記短直線マッチング手段により抽出された皮溝の中から短直線の連結数が所定値以上の皮溝を主要皮溝として抽出する主要皮溝抽出手段と、
前記主要皮溝抽出手段により抽出された皮溝に基づいて、表皮組織を定量化した指標として、皮溝の平均太さ、皮溝の間隔、皮溝の平行度の少なくとも1つを算出する定量化指数算出手段と、
を備えた表皮組織定量化装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
A61B5/10 300Q
, A61B5/00 M
, A61B5/00 101A
4C038VA04
, 4C038VB22
, 4C038VC05
, 4C117XA02
, 4C117XB01
, 4C117XB13
, 4C117XD05
, 4C117XE43
, 4C117XF03
, 4C117XG16
, 4C117XJ05
, 4C117XJ13
, 4C117XJ14
, 4C117XK02
, 4C117XK05
, 4C117XK09
, 4C117XK18
