特許
J-GLOBAL ID：200903011071252490
RFID装置試験器および方法
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
山本 秀策
, 安村 高明
, 森下 夏樹
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-503546
公開番号（公開出願番号）：特表2006-518521
出願日： 2004年02月13日
公開日（公表日）： 2006年08月10日
要約：
RFID装置試験器(10)は、読み取り装置(14)を、試験されるRFID装置(12)に容量的に結合するための結合要素を含む。RFID装置が適切に動作している場合、RFID装置によって整流され得るおよび/または反射され得る出力AC電力信号のような出力信号を送信することによって、読み取り装置(14)はRFID装置に電力を供給し得る。出力信号は、RFID装置のアンテナの共振周波数とは異なる周波数を用い得る。読み取り装置は、反射されたおよび/または伝送された信号を検知し、RFID装置(14)の適切な動作を確認する。RFID装置試験器(10)はロールツーロールプロセス(80)の一部として用いられ得て、材料のロール(70)におけるRFID装置を各々試験する。短距離の容量的結合を利用することによって、複数のRFID装置の同時活性化によって引き起こされる難点は減少され得るかまたは回避され得る。
請求項（抜粋）：
RFID(radio frequency identification)装置を試験する方法であって、該方法は、
RFID装置試験器を該RFID装置のアンテナへ容量的に結合することと、
該RFID装置試験器から出力信号を生成することと、
該RFID装置に電力を供給するために該出力信号を使用することと、
該RFID装置においてリターン信号を生成することと、
該試験器の一部である読み取り装置を介してリターン信号を検知することと
を包含する方法。
IPC (3件)：
G06K 17/00
, H04B 5/02
, H04B 1/59
G06K17/00 B
, G06K17/00 F
, H04B5/02
, H04B1/59
5B058CA17
, 5B058CA23
, 5B058KA02
, 5B058KA24
, 5B058KA28
, 5K012AB04
, 5K012AE01
, 5K012BA02
, 5K012BA18
