特許

J-GLOBAL ID：200903011109819635

制御ループ診断装置

発明者： 今井 龍彦
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-283845
公開番号（公開出願番号）：特開2007-094794
出願日： 2005年09月29日
公開日（公表日）： 2007年04月12日
要約：

【課題】 主観的要因を排除し、客観的な事象に基づくデータにより、制御ループ健全でない場合の要因の特定を可能とする、制御ループ診断装置を実現する。【解決手段】 測定流体が流れる管路に調節弁が挿入され、前記測定流体の流量の測定信号を用いて制御演算を行い、演算で求めた制御信号で前記調節弁を制御する制御ループの健全性を診断する制御ループ診断装置において、 前記測定信号、前記制御信号及び前記調節弁の開度信号を監視データとして取得して保持する入力処理手段と、 この入力処理手段より前記監視データを読み出し、各監視データの変化傾向のパターンの組み合わせを監視する変化傾向監視手段と、を備える。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

測定流体が流れる管路に調節弁が挿入され、前記測定流体の流量の測定信号を用いて制御演算を行い、演算で求めた制御信号で前記調節弁を制御する制御ループの健全性を診断する制御ループ診断装置において、 前記測定信号、前記制御信号及び前記調節弁の開度信号を監視データとして取得して保持する入力処理手段と、 この入力処理手段より前記監視データを読み出し、各監視データの変化傾向のパターンの組み合わせを監視する変化傾向監視手段と、 を備えることを特徴とする制御ループ診断装置。

IPC (3件)：

G05B 23/02 ,  G01M 19/00 ,  G05D 7/06

FI (3件)：

G05B23/02 302R ,  G01M19/00 Z ,  G05D7/06 Z

Fターム (23件)：

2G024AD42 ,  2G024BA27 ,  2G024CA16 ,  2G024EA01 ,  2G024FA06 ,  2G024FA11 ,  5H223AA01 ,  5H223BB01 ,  5H223CC01 ,  5H223DD07 ,  5H223DD09 ,  5H223EE04 ,  5H223EE06 ,  5H223EE11 ,  5H223FF06 ,  5H307AA01 ,  5H307BB01 ,  5H307DD17 ,  5H307EE12 ,  5H307FF02 ,  5H307GG03 ,  5H307GG11 ,  5H307HH04

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 積層型LC複合部品
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-254098   出願人：株式会社村田製作所

審査官引用 (3件)

• 特開昭53-131374
  
• プロセス運用支援システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-212333   出願人：株式会社日立製作所
• プラント監視診断装置および方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-037264   出願人：株式会社東芝