特許
J-GLOBAL ID:200903011640126113
非線形光学定数評価方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小川 勝男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-314303
公開番号(公開出願番号):特開平5-149826
出願日: 1991年11月28日
公開日(公表日): 1993年06月15日
要約:
【要約】【目的】粉末試料を用いても結果が平均粒径のコヒーレンス長に対する相対的大きさや、バルクでの位相整合の可否によらない簡便な評価方法を提供すること【構成】基本波をプリズムにより全反射せしめ、試料をプリズムに密着させるか、あるいは微小間隙を設けて配置し、全反射によるエバネッセント波を用いて、高次高調波を発生せしめ、その発生効率を測定することにより非線形光学定数を評価する。この際、基本波の入射角tに対して、n1・sin(t)=n2・sin(m)を満たす角度mの方向に放射される高次高調波を観測する。
請求項(抜粋):
基本波をプリズムにより全反射せしめ、試料をプリズムに密着させるか、あるいは微小間隙を設けて配置し、全反射によるエバネッセント波を用いて、高次高調波を発生せしめ、その発生効率を測定することを特徴とする非線形光学定数評価方法において、プリズムの基本波に対する屈折率をn1、高次高調波に対する屈折率をn2としたとき、基本波の入射角tに対して、n1・sin(t)=n2・sin(m)を満たす角度mの方向に放射される高次高調波を観測することを特徴とする非線形光学定数評価方法。
IPC (3件):
G01M 11/00
, G01N 21/62
, G02F 1/35 503
引用特許:
審査官引用 (7件)
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特表平5-504626
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特開昭63-273042
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特表平1-502131
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特開昭63-098547
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特開平3-115953
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非線形光学定数評価方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-218264
出願人:株式会社日立製作所
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特開昭63-027304
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