特許
J-GLOBAL ID:200903011643574710
粉塵量測定装置及び測定方法
発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-068852
公開番号(公開出願番号):特開平11-264796
出願日: 1998年03月18日
公開日(公表日): 1999年09月28日
要約:
【要約】【課題】 多種多様な粉塵発生源から発生する物性が異なる粉塵に対しても、また粉塵ガスの発生範囲や量が異なるものに対しても、粉塵の発生量を測定する。【解決手段】 レーザ光線を投射するレーザ投光器と、レーザ投光器と分離された該投射光を受けるレーザ受光器と、前記レーザ投光器とレーザ受光器と電気的に接続されレーザ光線の透過率の対数変換値を求めるとともに、設定した対数変換値と粉塵量の関係式と、粉塵ガス発生量をもとに粉塵量を算出する制御部と、対数変換値と粉塵量の関係式を表す直線回帰式を求めるための校正器とを有していることを特徴とする粉塵量測定装置である。
請求項(抜粋):
レーザ光線を投射するレーザ投光器と、レーザ投光器と分離された該投射光を受けるレーザ受光器と、前記レーザ投光器とレーザ受光器と電気的に接続されレーザ光線の透過率の対数変換値を求めるとともに、設定した対数変換値と粉塵量の関係式と、粉塵ガス発生量をもとに粉塵量を算出する制御部と、対数変換値と粉塵量の関係式を表す直線回帰式を求めるための校正器とを有していることを特徴とする粉塵量測定装置。
IPC (2件):
FI (3件):
G01N 21/47 Z
, G01N 15/06 C
, G01N 15/06 D
引用特許:
審査官引用 (5件)
-
特開平4-040344
-
特開昭57-022541
-
浮遊粒子濃度計測装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-120285
出願人:富士電機株式会社
-
特開平4-249748
-
特開昭63-103940
全件表示
前のページに戻る