特許
J-GLOBAL ID：200903011650557902
三刺激値直読型計測器の校正方法、校正システム、色測定方法、および色測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
特許業務法人樹之下知的財産事務所
, 木下 實三
, 中山 寛二
, 石崎 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-347510
公開番号（公開出願番号）：特開2008-157782
出願日： 2006年12月25日
公開日（公表日）： 2008年07月10日
要約：
【課題】分光型計測器に合わせた高精度の測定を可能とする三刺激値直読型計測器の校正方法、校正システム、色測定方法、および色測定装置を提供すること。【解決手段】三刺激値直読型計測器の校正時において、仮想AD値算出工程S11で仮想AD値(仮想出力値)を算出し、変換関数算出工程S12で変換パラメータ(変換関数)を算出して、仮想AD値に対する三刺激値直読型計測器の計測値の関係を明らかにすることで、分光型計測器の基準測定値との誤差を低減させた高精度の測定を可能とする三刺激値直読型計測器が実現できる。色変換マトリクス算出工程S5にて算出した色変換マトリクスMと分光型計測器の基準階調測定値とに基づいて仮想AD値を算出することで、三刺激値直読型計測器の光学フィルタの分光透過特性や受光素子の分光感度特性が既知でなくても仮想AD値を算出することができる。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
基準となるリファレンス光源をスペクトル形状の異なる複数色に変化させて色毎に分光型計測器および三刺激値直読型計測器を用いて計測し、前記分光型計測器の基準色測定値および前記三刺激値直読型計測器の色計測値を取得する色計測工程と、
前記リファレンス光源の明るさを複数段階に変化させて明るさ毎に前記分光型計測器および前記三刺激値直読型計測器を用いて計測し、前記分光型計測器の基準階調測定値および前記三刺激値直読型計測器の階調計測値を取得する階調計測工程と、
前記リファレンス光源の色毎の前記基準色測定値および前記色計測値に基づいて、前記分光型計測器および前記三刺激値直読型計測器の色変換マトリクスを算出する色変換マトリクス算出工程と、
前記基準階調測定値と前記色変換マトリクスの逆行列との積により、前記リファレンス光源の明るさ毎に前記三刺激値直読型計測器固有の色空間での仮想出力値を算出する仮想出力値算出工程と、
前記リファレンス光源の明るさ毎の前記階調計測値および前記仮想出力値に基づいて、前記三刺激値直読型計測器の階調計測値を前記仮想出力値に近似するための変換パラメータを算出する変換パラメータ算出工程とを備えていることを特徴とする三刺激値直読型計測器の校正方法。
IPC (3件)：
G01J 3/51
, G01J 3/46
, G01J 3/02
G01J3/51
, G01J3/46 Z
, G01J3/02 C
2G020AA08
, 2G020DA05
, 2G020DA12
, 2G020DA13
, 2G020DA31
, 2G020DA34
, 2G020DA35
