特許
J-GLOBAL ID：200903011921839500
波形パターンデータから設備の診断・監視又は製品の良品・不良品検査のための特徴を抽出する方法及びプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
杉山 誠二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-274268
公開番号（公開出願番号）：特開2004-110602
出願日： 2002年09月20日
公開日（公表日）： 2004年04月08日
要約：
【課題】時系列波形パターンから、対象とする波形パターンが有する固有の特徴を代表し、かつ、時間的変化の性質等も保有する波形パターンの特徴抽出方法及びプログラムを提供すること。【解決手段】波形パターンデータを平準化するステップと、元の波形パターンデータと平準化された波形パターンデータとの差分を計算するステップと、差分計算によって得られた波形パターンデータについて、着目する時点の近傍の所定範囲における波形パターンデータを選択し、選択した波形パターンデータについて、1本又は複数本の標本線を定めるステップと、定められた標本線上における、差分計算によって得られた波形パターンデータの変化量、存在量、存在量の最小値、存在量の最大値、波形パターンの開始点、又は波形パターンの終了点のうち一部又は全部を抽出するステップとを含む。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
時系列で変化する計測値による波形パターンデータから設備の診断・監視のための特徴を抽出する方法であって、
波形パターンデータを平準化する第1ステップと、
元の波形パターンデータと平準化された波形パターンデータとの差分を計算する第2ステップと、
差分計算によって得られた波形パターンデータについて、着目する時点の近傍の所定範囲における波形パターンデータを選択し、選択した波形パターンデータについて、1本又は複数本の標本線を定める第3ステップと、
前記定められた標本線上における、前記差分計算によって得られた波形パターンデータの変化量、存在量、存在量の最小値、存在量の最大値、波形パターンの開始点、又は波形パターンの終了点のうち一部又は全部を抽出する第4ステップと、
を含むことを特徴とする方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G05B23/02 T
, G05B23/02 301V
, G06F17/10 D
5B056BB22
, 5B056BB37
, 5B056BB42
, 5H223AA05
, 5H223DD03
, 5H223EE06
, 5H223FF03
