特許
J-GLOBAL ID：200903011937029796
劣化度測定キットによる電子回路基板の劣化寿命診断法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
三好 秀和 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-255957
公開番号（公開出願番号）：特開2002-071666
出願日： 2000年08月25日
公開日（公表日）： 2002年03月12日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、電子回路基板の回収や破壊試験を行うことなく、環境因子の劣化に及ぼす影響を考慮に入れた電子回路基板の劣化寿命の診断を低コストで行うことを目的とする。【解決手段】 診断者は、ユーザに環境有害度測定用の測定試料を収納した劣化度測定キット1を無償供与し、ユーザは測定試料を大気環境に所定期間暴露した後、診断者に返送し、診断者は返送された測定試料を分析して環境有害度を表す指標値を求め、この指標値を基に電子回路基板の劣化状態を診断し、診断結果及び処方箋6をユーザに有償提示することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
診断者は、診断対象となる電子回路基板のユーザに当該電子回路基板が使用されている大気環境の有害度測定用の測定試料を含む所定の試料が収納された劣化度測定キットを無償供与し、前記ユーザは、前記測定試料を前記大気環境に所定期間暴露した後、当該測定試料を前記診断者に返送し、前記診断者は、この返送された測定試料を分析して前記大気環境の有害度を表す指標値を求め、この指標値を基に前記電子回路基板の劣化状態を診断し、その診断結果及び処方箋を前記ユーザに有償提示することを特徴とする劣化度測定キットによる電子回路基板の劣化寿命診断法。
引用特許：
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