特許
J-GLOBAL ID：200903012117213106
ICのインサーキットテスタによる足浮き検出方法並びに足押え具
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
柳沢 大作
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-181383
公開番号（公開出願番号）：特開平10-010183
出願日： 1996年06月22日
公開日（公表日）： 1998年01月16日
要約：
【要約】【課題】 ICピンのファインピッチ化に対応できてプロービングを行ない易くし、打痕傷を少なくする。【解決手段】 IC10のグランド又は電源ピン12aが接続すべきパターン16aと被検査用入力又は出力ピン12bが接続すべきパターン16bとに測定用ピンプローブ26を1本ずつ押し当て、グランド又は電源ピン12aと対応するパターン16aの間及び被検査用入力又は出力ピン12bと対応するパターン16bの間の両導通状態を示す電気量を測定し、更にグランド又は電源ピン12aと被検査用入力又は出力ピン12bとに絶縁性加圧用プローブ30を1本ずつ押し当て、同様にグランド又は電源ピン12aと対応するパターン16aの間及び被検査用入力又は出力ピン12bと対応するパターン16bの間の両導通状態を示す電気量を測定し、両電気量の差をしきい値と比べる。
請求項（抜粋）：
インサーキットテスタを用いて、プリント基板に実装したICのピンと対応するパターン間の導通状態を示す電気量を測定し、その測定結果からICの足浮きの有無を判定するICのインサーキットテスタによる足浮き検出方法において、上記ICのグランド又は電源ピンが接続すべきパターンと被検査用入力又は出力ピンが接続すべきパターンとにそれぞれ測定用ピンプローブを1本ずつ押し当て、そのグランド又は電源ピンと対応するパターン間及び被検査用入力又は出力ピンと対応するパターン間の両導通状態を示す電気量を測定し、更にそれ等のグランド又は電源ピンと被検査用入力又は出力ピンとに絶縁性加圧用プローブを押し当て、同様にグランド又は電源ピンと対応するパターン間及び被検査用入力又は出力ピンと対応するパターン間の両導通状態を示す電気量を測定し、それ等の両電気量の差をしきい値と比べることを特徴とするICのインサーキットテスタによる足浮き検出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
前のページに戻る
