特許
J-GLOBAL ID：200903012194950830
ハニカム構造体におけるセルの閉塞状態認識方法及び閉塞状態検査方法並びにハニカム構造体の製造方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山田 強
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-236259
公開番号（公開出願番号）：特開2008-055340
出願日： 2006年08月31日
公開日（公表日）： 2008年03月13日
要約：
【課題】両端面を所望の閉塞状態としたハニカム構造体の製造方法を提供すること。【解決手段】構造体本体86の一方の端面861における各セル端部を隣り合うセルで互い違いに閉塞する。また、構造体本体86の他方の端面862にこの端面を覆うように光透過性の樹脂フィルムを貼付する。そして、構造体本体86の一方の端面861側から光照射手段55により光を照射し、その光照射状態で構造体本体86の他方の端面862をカメラ部511により撮像し、カメラ部511により得られた画像データにおけるセルごとの明暗を識別することにより一方の端面861における各セルの端部の閉塞状態を認識する。そして、このようにして認識した一方の端面861の閉塞状態に基づき、他方の端面862のセル位置における樹脂フィルムに貫通穴21を形成する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
隔壁により仕切られた複数のセルを有し、少なくとも一端面において前記各セルの端部を隣り合うセルで互い違いに閉塞してなるハニカム構造体におけるセルの閉塞状態認識方法であって、
前記ハニカム構造体の一方の端面側から光照射手段により光を照射し、
その光照射状態で前記ハニカム構造体の他方の端面を撮像手段により撮像し、
前記撮像手段により得られた画像データにおけるセルごとの明暗を識別することにより、前記ハニカム構造体におけるセルの閉塞状態を認識することを特徴とするハニカム構造体におけるセルの閉塞状態認識方法。
IPC (3件)：
B01D 46/00
, B28B 11/02
, G01N 15/08
B01D46/00 302
, B28B11/02
, G01N15/08 B
4D058JA37
, 4D058JB06
, 4D058SA08
, 4D058UA16
, 4G055AA08
, 4G055AC10
, 4G055BA22
