特許
J-GLOBAL ID：200903012196845740
分析装置及び管理システム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
外川 英明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-009197
公開番号（公開出願番号）：特開2004-219352
出願日： 2003年01月17日
公開日（公表日）： 2004年08月05日
要約：
【課題】電極の稼動状況を容易に把握することができ、電極を製造から寿命まで効率良く管理することができる自動分析装置及び管理システムを提供すること。【解決手段】電極情報テーブル301には、測定するイオンの種類302と、電極の製造後の有効期限(出荷日も参照として表示可能)303と、電極の現ユーザーの使用日数(使用開始日も参照として表示可能)304と、電極の測定検体数305と、電極の感度(最新の感度測定結果)306と、電極の精度(最新の精度測定結果)307と、電極の確度(最新の確度測定結果)308と、電極の電位(最新の電位測定結果)309とが表示できる。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
被検試料におけるイオンを測定する電極と、
前記電極の性能に係る情報を測定する電極性能測定手段と、
前記電極性能測定手段による測定結果に基づいて前記電極の性能を判定する電極性能判定手段とを備えることを特徴とする分析装置。
IPC (5件)：
G01N27/26
, G01N27/28
, G01N27/416
, G01N35/00
, G01N35/04
G01N27/26 391Z
, G01N27/26 381A
, G01N27/28 M
, G01N35/00 F
, G01N35/04 A
, G01N27/46 351B
, G01N27/46 351K
, G01N27/46 366D
2G058BB02
, 2G058BB09
, 2G058BB17
, 2G058CB04
, 2G058CD04
, 2G058EB01
, 2G058ED04
, 2G058FB06
, 2G058FB07
, 2G058FB12
, 2G058GA01
, 2G058GB10
, 2G058GD06
, 2G058GE08
