特許
J-GLOBAL ID：200903012221955041

X線撮像装置及び撮像方法

発明者：
米山 明男

米山 明男 について

, 
平井 康晴

平井 康晴 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： ポレール特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-197713
公開番号（公開出願番号）：特開2008-026098
出願日： 2006年07月20日
公開日（公表日）： 2008年02月07日
要約：
【課題】従来の吸収及び位相コントラストX線撮像装置では測定が難しかった骨や肺等のような大きな密度変化から生体軟部組織等のような小さな密度変化までを含むような試料を高感度に撮像・観察する。【解決手段】X線干渉計を用いた位相コントラスト型X線撮像装置において、試料が設置された干渉計内の光路とは異なる光路に、形状及び内部密度分布が試料と類似し、且つ既知の参照体を設置する。【選択図】図10
請求項（抜粋）：
入射X線ビームを第1及び第2X線ビームに分割する分割素子と、 該分割された第1及び第2X線ビームを反射する反射素子と、 該反射された第1及び第2X線ビームを結合する結合素子と、 よりなるX線干渉計と、 前記第1X線ビーム及び第2X線ビームの任意の一つのX線ビームの光路内に試料を設置する手段と、 前記試料を設置したX線ビームとは異なるX線ビームの光路内に、前記試料と形状と内部の密度分布が類似し、且つ既知である参照体を設置する手段と、 前記結合素子から出射した干渉X線ビームを検出する検出器と、 該検出器の出力に基づいて前記試料によって生じた干渉X線ビームの位相シフトを表す試料像を得る処理部と、 から構成されることを特徴とするX線撮像装置。
IPC (4件)：
G01N 23/04 ,  G21K 1/06 ,  G01T 1/00 ,  A61B 6/00
FI (5件)：
G01N23/04 ,  G21K1/06 A ,  G21K1/06 G ,  G01T1/00 B ,  A61B6/00 330Z
Fターム (18件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001EA01 ,  2G001EA07 ,  2G001FA02 ,  2G001GA01 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001KA01 ,  2G001LA01 ,  4C093AA30 ,  4C093CA04 ,  4C093DA06 ,  4C093EA11 ,  4C093GA01
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (5件)
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