特許
J-GLOBAL ID：200903012266490988
蛍光検出法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
山本 秀策
, 安村 高明
, 森下 夏樹
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-501925
公開番号（公開出願番号）：特表2005-524084
出願日： 2003年04月30日
公開日（公表日）： 2005年08月11日
要約：
サンプル中の蛍光を発することができる化合物の有無を検出もしくは測定する装置ならびに方法。この装置は、少なくとも1つの膜スペーサ層により離隔された、金属粒子と蛍光を発することができる化合物を含むことができる。膜の厚さによって、化合物の金属粒子からの距離に基づき、該化合物の蛍光が増強される。この方法は、化合物の蛍光強度を増強するように化合物を金属粒子からある間隔を置いて配置し、化合物に放射線を照射し、蛍光の発光を検出することを含む。また、この装置は、多孔性三次元マトリクス内に含ませた多数の金属粒子の形をとることができる。また、この方法は、多数の金属粒子を含有する多孔性三次元マトリクスを通して化合物を流すことを含む。
請求項（抜粋）：
粒子状もしくは膜状の金属、少なくとも1つの膜スペーサ層、蛍光を発することができる化合物、および放射源を含むサンプル内の該蛍光を発することができる化合物の有無を検出もしくは測定する装置であって、該金属粒子もしくは金属膜と該化合物とが該少なくとも1つの膜スペーサ層によって離隔されている、装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (13件)：
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043CA04
, 2G043DA02
, 2G043DA05
, 2G043EA01
, 2G043FA03
, 2G043GA07
, 2G043GB21
, 2G043LA01
, 2G054CA22
, 2G054CE02
, 2G054EA03
