特許

J-GLOBAL ID：200903012411104510

絶縁診断方法

発明者： 宮尾 博 ,  佐藤 隆徳 ,  萩原 修哉 ,  神谷 宏之 ,  小野田 満
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 富田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-234141
公開番号（公開出願番号）：特開平9-080029
出願日： 1995年09月12日
公開日（公表日）： 1997年03月28日
要約：

【要約】【目的】 電気機器の絶縁余寿命推定法の診断精度を高める。【構成】 残存破壊電圧の計算式として以下の関係式を提案する。Vr=100-a・(Δ-b)-c・log(Qm・A/d)Aは、絶縁層内部での剥離状態を示す係数である。剥離状態は、打音の解析によって非破壊で検査できる。絶縁層が健全な場合はA=1、単層剥離に近い場合はA=0.3、単層剥離+多重剥離の場合はA=0.6、多重剥離がほとんどの場合はA=1とする。上記関係式の計算結果を、プロットすると図1の等残存破壊電圧線1が得られる。図1は、横軸にQm・Aをとっているため、Aの値によって等残存破壊電圧線が変化しない。つまり、図1は剥離状態によらず適用可能である。上記関係式に基づいて算出される残存破壊電圧Vrあるいは図1の読み取り結果を用いて、余寿命を推定できる。

請求項（抜粋）：

最大放電電荷量を含んだ演算によって絶縁劣化の程度を表す残存破壊電圧を求める絶縁診断方法において、絶縁層内部の剥離状態を検査し、その検査結果に応じて上記最大放電電荷量を補正し、該補正後の最大放電電荷量を用いて上記残存破壊電圧を求めること、を特徴とする絶縁診断方法。

IPC (4件)：

G01N 27/92 ,  G01N 21/27 ,  G01N 29/12 ,  G01R 31/12

FI (4件)：

G01N 27/92 E ,  G01N 21/27 B ,  G01N 29/12 ,  G01R 31/12 Z

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 絶縁膜劣化の評価方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-008928   出願人：株式会社東芝
• 特開昭56-074664
  
• 特開昭58-139066