特許
J-GLOBAL ID：200903012433527317
粒子線出射装置、これに用いる治療計画装置、及び粒子線出射方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
春日 讓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-143036
公開番号（公開出願番号）：特開2004-358237
出願日： 2004年05月13日
公開日（公表日）： 2004年12月24日
要約：
【課題】荷電粒子ビームを用いた治療時における実際の照射線量の検出精度を向上する。【解決手段】シンクロトロン12と、走査電磁石5A,5Bを有し、シンクロトロン12から出射されたイオンビームを出力する照射装置15と、照射装置15からのイオンビームの出力を停止させ、イオンビームの出力を停止した状態で、走査電磁石5A,5Bを制御することによりイオンビームの照射位置を変更させ、この変更後に、照射装置15からのイオンビームの出力を開始させるように、かつ少なくとも1つの照射位置へのイオンビームの照射を治療計画情報に基づいて複数回行うように、走査電磁石5A,5Bを制御する加速器・輸送系コントローラ40及びスキャニングコントローラ41とを備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
荷電粒子ビームを出射する加速器と、
荷電粒子ビーム走査装置を有し、前記加速器から出射された荷電粒子ビームを出力する照射装置と、
前記荷電粒子ビームの照射位置への前記荷電粒子ビームの照射を設定された複数回行うように、前記荷電粒子ビーム走査装置を制御して前記荷電粒子ビームを移動させる制御装置とを備えたことを特徴とする粒子線出射装置。
IPC (2件)：
FI (4件)：
A61N5/10 H
, A61N5/10 P
, G21K5/04 A
, G21K5/04 C
4C082AA01
, 4C082AC04
, 4C082AC05
, 4C082AG06
, 4C082AG07
, 4C082AG12
, 4C082AN01
, 4C082AP02
, 4C082AP12
, 4C082AR01
出願人引用 (1件)
審査官引用 (5件)
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