特許
J-GLOBAL ID：200903012462933642
探傷検査方法、探傷検査装置、及び探傷検査用センサ
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
佐藤 正年 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-252363
公開番号（公開出願番号）：特開平7-083884
出願日： 1993年09月14日
公開日（公表日）： 1995年03月31日
要約：
【要約】【目的】 従来の渦電流探傷検査法に比べ格段に高精度の探傷を行えると共に欠陥形状の定量評価ができる探傷検査方法及び装置等を得ること。【構成】 被検体7に対して交流磁場を印加すると共に該交流磁場の変化を磁気検出手段4により検出しつつ被検体の探傷検査範囲を走査して該被検体7に存在する欠陥を検査する探傷検査方法で、磁気検出手段4は、前記走査方向と、該走査方向と交叉する方向とに二次元的に配列された複数の磁気検出素子5を有するものであり、該磁気検出手段4の複数の磁気検出素子5を用いて、被検体表面に交叉する磁場の強度及び/又は位相の変化の分布を測定することにより欠陥を検出する方法。また、磁気検出手段4の複数の検出素子5が被検体の表面形状に沿って配列されたもの等を開示する。
請求項（抜粋）：
被検体に対して交流磁場を印加すると共に該交流磁場の変化を磁気検出手段により検出しつつ被検体の探傷検査範囲を走査して該被検体に存在する欠陥を検査する探傷検査方法であって、前記磁気検出手段は、前記走査方向と、該走査方向と交叉する方向とに二次元的に配列された複数の磁気検出素子を有するものであり、該磁気検出手段の複数の磁気検出素子を用いて、被検体表面に交叉する磁場の強度及び/又は位相の変化の分布を測定することにより前記欠陥を検出することを特徴とする探傷検査方法。
引用特許：
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