特許
J-GLOBAL ID:200903012551918169

光学測定システムおよび試料の光学特性管理方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 久保 幸雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-189687
公開番号(公開出願番号):特開2006-010562
出願日: 2004年06月28日
公開日(公表日): 2006年01月12日
要約:
【課題】製品や物品などの試料が多種にわたって不規則に入り混じって流れてくるような場合においても、合否判定を容易に且つ確実・迅速に行うこと。【課題を解決するための手段】試料の光学特性値を測定する測色計5、試料に個別に取り付けられた識別票SBの属性識別情報を読みバーコードリーダ4、試料に関する光学特性管理情報を各試料の属性識別情報と対応付けて記憶する記憶部22、制御部21を備え、制御部21は、試料から読み取った属性識別情報に対応する光学特性管理情報を記憶部22から読み出し、それと当該試料について測定した光学特性値とを比較し、それらが許容される範囲内であるか否かを判定してその判定結果を出力するように制御する。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
試料の光学特性が所定の管理範囲内であるかを管理するための光学測定システムであって、 前記試料の光学特性値を測定する測定手段と、 前記試料に個別に取り付けられた識別票の属性識別情報を読み取る読取り手段と、 複数種類の試料に関する光学特性管理情報を各試料の属性識別情報と対応付けて記憶する記憶手段と、 制御手段と、を備え、 前記制御手段は、 前記読取り手段により読み取った試料についての属性識別情報に対応する光学特性管理情報を前記記憶手段から読み出し、読み出した光学特性管理情報と当該試料について前記測定手段によって測定した光学特性値とを比較し、当該光学特性値が当該光学特性管理情報で許容される範囲内であるか否かを判定してその判定結果を出力するように制御する、 ことを特徴とする光学測定システム。
IPC (2件):
G01N 21/85 ,  G01J 3/46
FI (2件):
G01N21/85 Z ,  G01J3/46 Z
Fターム (25件):
2G020AA08 ,  2G020DA02 ,  2G020DA03 ,  2G020DA04 ,  2G020DA05 ,  2G020DA06 ,  2G020DA15 ,  2G020DA23 ,  2G020DA31 ,  2G020DA34 ,  2G020DA35 ,  2G020DA52 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051AB20 ,  2G051CA01 ,  2G051CB01 ,  2G051DA06 ,  2G051DA13 ,  2G051DA15 ,  2G051EA08 ,  2G051EA14 ,  2G051EA17 ,  2G051EA24 ,  2G051EB01
引用特許:
出願人引用 (1件)

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