特許

J-GLOBAL ID：200903012596096895

計測装置

発明者： 平山 昌甫 ,  阿久津 功
出願人/特許権者： 大亜真空株式会社 ,  平山 昌甫
代理人 (1件)： 木下 茂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-135477
公開番号（公開出願番号）：特開2002-328045
出願日： 2001年05月02日
公開日（公表日）： 2002年11月15日
要約：

【要約】【課題】 例えば、個々の圧力センサユニットに応じて、最適な校正が得られるようにした圧力測定装置を提供すること。【解決手段】 圧力センサが受ける被測定圧力に応じて、出力パルス間隔が変更されるように構成した圧力センサユニットからの前記パルス信号を受けて、マイコン42において被測定圧力が演算される。前記マイコン42に対してICチップ50aを搭載したROMカード50が着脱可能に装着される。前記ICチップ50aには、個々の圧力センサユニットにおける例えば温度依存性に対応する校正データが格納されており、マイコン42においては、この校正データを利用して、例えば補間法を用いて圧力データを校正し表示する。

請求項（抜粋）：

計測センサによって計測された出力を受けて、計測値を求める計測装置であって、少なくとも、前記計測センサを含む計測センサユニットの校正情報が記憶された記憶手段が着脱可能に搭載され、前記記憶手段に格納された校正情報を利用して、計測値を演算する計測用回路ユニットを具備してなる計測装置。

IPC (4件)：

G01D 3/028 ,  G01D 3/02 ,  G01L 9/00 ,  G01L 19/00 101

FI (4件)：

G01L 9/00 E ,  G01L 19/00 101 ,  G01D 3/04 D ,  G01D 3/02 N

Fターム (19件)：

2F055AA11 ,  2F055BB08 ,  2F055CC02 ,  2F055DD01 ,  2F055EE25 ,  2F055FF02 ,  2F055FF12 ,  2F055FF45 ,  2F055GG11 ,  2F055GG32 ,  2F055GG37 ,  2F055GG44 ,  2F055HH05 ,  2F075AA03 ,  2F075AA08 ,  2F075BB08 ,  2F075EE15 ,  2F075EE17 ,  2F075EE18

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭59-122924
  
• 特開昭58-200118
  
• 静電容量型センサ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-078540   出願人：長野計器株式会社