特許

J-GLOBAL ID：200903012628680608

柱状物体の観測方法

発明者： 五明 憲一
出願人/特許権者： 川惣電機工業株式会社
代理人 (1件)： 中野 収二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-278136
公開番号（公開出願番号）：特開2002-090125
出願日： 2000年09月13日
公開日（公表日）： 2002年03月27日
要約：

【要約】【目的】 横断面を概ね円形とする柱状物体を非接触により観測し、柱状物体の表面形状と、軸線の方向性と、体積のうちの少なくとも一つを評価するための方法を提供する。【構成】 柱状物体の周方向に間隔をあけて少なくとも3個所以上に配置した光学的手段を用いることにより、該柱状物体の軸方向の所定座標点(zi)における横断面と光学的手段を結ぶ接線により該横断面上に形成される合計6点以上の接点の平面座標(xi、yi、i=1〜6)を検出する工程と、前記平面座標の値から、式:C0 x2 +C1 y2 +C2 xy+C3 x+C4 y+C5 =0(C0〜C5 :決定係数)に基づいて、前記6点の接点を全て含む楕円曲線を求める工程と、前記楕円曲線により表されるデータを柱状物体の軸方向に関して階層的に求めることにより、柱状物体の表面形状と、軸線の方向性と、体積のうちの少なくとも一つを評価する工程とから成る構成である。

請求項（抜粋）：

横断面を概ね円形とする柱状物体を非接触により観測する方法において、柱状物体の周方向に間隔をあけて少なくとも3個所以上に配置した光学的手段を用いることにより、該柱状物体の軸方向の所定座標点(zi)における横断面と光学的手段を結ぶ接線により該横断面上に形成される合計6点以上の接点の平面座標(xi、yi、i=1〜6)を検出する工程と、前記平面座標の値から、式:C0 x2 +C1 y2 +C2 xy+C3 x+C4 y+C5 =0(C0 〜C5 :決定係数)に基づいて、前記6点の接点を全て含む楕円曲線を求める工程と、前記楕円曲線により表されるデータを柱状物体の軸方向に関して階層的に求めることにより、柱状物体の表面形状と、軸線の方向性と、体積のうちの少なくとも一つを評価する工程とから成ることを特徴とする柱状物体の観測方法。

IPC (2件)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/26

FI (4件)：

G01B 11/26 Z ,  G01B 11/26 H ,  G01B 11/24 A ,  G01B 11/24 K

Fターム (15件)：

2F065AA32 ,  2F065AA43 ,  2F065AA51 ,  2F065BB06 ,  2F065BB07 ,  2F065BB12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM03 ,  2F065QQ14 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065TT03

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平2-236407
  
• ロール径測定方法及びその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-008659   出願人：日本鋼管株式会社
• 特開昭61-101884
  
• 特開昭63-293404