特許
J-GLOBAL ID：200903012881901165
部品認識制御方法及び部品認識制御装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小谷 悦司 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-294892
公開番号（公開出願番号）：特開2002-110745
出願日： 2000年09月27日
公開日（公表日）： 2002年04月12日
要約：
【要約】【課題】 バンプの有無もしくは良否の判定と、そのバンプの位置検出とを共に精度よく行い得る部品認識制御方法及び装置を提供する。【解決手段】 略球状のバンプが下面に形成された電子部品に対し下方位置にカメラを配置する一方、電子部品に対し側方から照明光(サイド照明光)を照射する第1光源と、バンプ形成面に対しハーフミラーを介して下から上向きに照明光(同軸照明光)を照射する第2光源とを配置する。まず、バンプ形成面に対しサイド照明光を照射した状態で撮像した第1画像に基づいてバンプの有無及び良否を判定する(S1,S2,S3)。次に、不良品を除外して良品についてのみ同軸照明光を照射した状態で撮像した第2画像に基づいてバンプの中心位置を割り出す(S4,S5,S6,S7,S8)。割り出したバンプ位置からマウンタヘッドの駆動補正量を割り出す(S9)。
請求項（抜粋）：
略球状のバンプが片面に形成された電子部品に対しそのバンプ形成面に対向する側に撮像手段を配置し、この撮像手段により撮像した上記バンプ形成面についての画像に基づいて上記電子部品の認識を行う部品認識制御方法であって、まず、上記バンプ形成面に対し対向する方向と直交する方向から光を照射した状態で上記撮像手段により上記バンプ形成面についての第1画像を撮像し、この第1画像に基づいてバンプの有無を判定するバンプ判定処理を行い、次に、上記バンプ形成面に対し対向する方向から光を照射した状態で上記撮像手段により上記バンプ形成面についての第2画像を撮像し、この第2画像に基づいて上記バンプの位置を割り出すバンプ位置割り出し処理を行うようにすることを特徴とする部品認識制御方法。
IPC (3件)：
H01L 21/60 311
, H05K 3/34 512
, H05K 13/08
H01L 21/60 311 T
, H05K 3/34 512 B
, H05K 13/08 Q
5E319AA03
, 5E319AB05
, 5E319BB04
, 5E319CD53
, 5F044PP15
, 5F044QQ01
