特許

J-GLOBAL ID：200903013024911985

水質検査装置

発明者： 山口 登 ,  安達 徹
出願人/特許権者： 京都電子工業株式会社 ,  株式会社クボタ
代理人 (1件)： 森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-166429
公開番号（公開出願番号）：特開平8-029374
出願日： 1994年07月19日
公開日（公表日）： 1996年02月02日
要約：

【要約】【目的】 水質検査精度を高度に維持すること。【構成】 内部に主電極6を配設した主密閉容器1と内部に副電極8を配設した副密閉容器2とが互いに連通されることにより、前記主密閉容器1から副密閉容器2にかけて被検査液Aが連続して流通されるように構成し、前記主密閉容器1内に電極研磨用ビーズ状研磨材12が充填されると共に、その主密閉容器1内にビーズ状研磨材12を攪拌するためのの攪拌翼14が回転自在に配設された残留塩素計において、前記主電極6が主密閉容器1の底部の該主密閉容器1の軸心Oから偏心した位置に配設されている。

請求項（抜粋）：

内部に主電極を配設した主密閉容器と内部に副電極を配設した副密閉容器とが互いに連通されることにより、前記主密閉容器から副密閉容器にかけて被検査液が連続して流通されるように構成し、前記主密閉容器内に電極研磨用ビーズ状研磨材が充填されると共に、その主密閉容器内にビーズ状研磨材を攪拌するためのの攪拌翼が回転自在に配設された水質検査装置において、前記主電極が主密閉容器の底部の該主密閉容器の軸心から偏心した位置に配設されていることを特徴とする水質検査装置。

IPC (3件)：

G01N 27/38 355 ,  G01N 27/416 ,  G01N 33/18

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 残留塩素測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-359584   出願人：京都電子工業株式会社, 株式会社クボタ