特許
J-GLOBAL ID:200903013375523876

感光体の特性評価装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小島 俊郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-081232
公開番号(公開出願番号):特開2000-275872
出願日: 1999年03月25日
公開日(公表日): 2000年10月06日
要約:
【要約】【課題】レーザスキャン光学系を持つデジタル機と同一スケールの時間で感光体の感度特性を評価して信頼性の高い評価を行う。【解決手段】感光体1の周囲に配置した帯電装置2と除電装置4及び第1の表面電位計5と第2の表面電位計6を感光体1に対して任意に移動して、感光体1の外径と感光体の線速,レーザスキャン副走査方向の解像度,帯電時間,露光時間及び帯電装置2の周方向における配置位置情報及び第1の表面電位計5と第2の表面電位計6が測定した露光前後の感光体1の表面電位から感光体1の特性を評価する。
請求項(抜粋):
被検査体である感光体の周囲に順に配置された帯電装置と露光装置と除電装置を有し、帯電装置と露光装置の間に第1の表面電位計が配置され、露光装置と除電装置の間に第2の表面電位計が配置され、感光体は回転自在に保持され、帯電装置と除電装置及び第1の表面電位計と第2の表面電位計は感光体の周方向と径方向と長手方向とに移動できるように共通の架台に取り付けられ、露光装置はレーザ書込装置からなり、感光体の径方向と長手方向に可動自在に設けられ、レーザ発光デバイスを連続点灯して感光体をスキャン露光し、第2の表面電位計には周方向の可動範囲に最大の自由度が与えられており、感光体の周囲に配置された装置は最大の自由度が与えられており、感光体の外径と感光体の線速,レーザスキャン副走査方向の解像度,帯電時間,露光時間及び感光体周囲に配置された装置の配置位置情報に基づきオン/オフ制御され、第1の表面電位計と第2の表面電位計が測定した感光体の露光前後の表面電位と各装置の配置位置情報から感光体の特性を評価して解析することを特徴とする感光体の特性評価装置。
IPC (3件):
G03G 5/00 101 ,  G03G 15/00 550 ,  G03G 21/14
FI (3件):
G03G 5/00 101 ,  G03G 15/00 550 ,  G03G 21/00 372
Fターム (12件):
2H027DA02 ,  2H027DA06 ,  2H027DA07 ,  2H027DA17 ,  2H027DE05 ,  2H027DE07 ,  2H027DE10 ,  2H027ED03 ,  2H027ED06 ,  2H068EA41 ,  2H068FB07 ,  2H071EA00
引用特許:
審査官引用 (11件)
  • レーザー出力測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-215904   出願人:株式会社ユニタック
  • 光減衰装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-241073   出願人:富士通株式会社
  • 特開平3-237424
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