特許
J-GLOBAL ID：200903013463624429
テスト項目抽出システム、テスト項目抽出装置、及びそれに用いるテスト項目抽出方法並びにそのプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
▲柳▼川 信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-148520
公開番号（公開出願番号）：特開2005-332098
出願日： 2004年05月19日
公開日（公表日）： 2005年12月02日
要約：
【課題】 対象となるソフトウェアあるいはシステムの開発経験が乏しくても、利用環境や運用条件に基づいて必要十分なテスト項目を容易に生成可能なテスト項目抽出装置を提供する。【解決手段】 テスト項目抽出部12は前提条件入力部11から入力された前提条件に基づいて、テスト項目管理部17が管理するテスト項目の中から、対象となるソフトウェアのテスト項目の候補を抽出する。テスト項目抽出部13はテスト項目抽出部12が検索したテスト候補項目を、過去の不具合発生率に応じて、不具合が発生しやすい順に操作者画面2aに表示する。テスト仕様登録部14は操作者が提示したテスト項目候補の中から、対象となるソフトウェアのテスト仕様としてテストする項目を選択し、テスト仕様管理部18に対象となるソフトウェアのテスト仕様として登録する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
少なくともソフトウェアを含む開発対象の信頼性を向上させるためのテスト設計におけるテスト項目を抽出するテスト項目抽出システムであって、過去に開発された開発対象のテスト項目を管理するテスト項目管理手段と、外部からの前提条件に基づいて前記テスト項目管理手段で管理されるテスト項目の中から類似性の高いテスト項目を抽出するテスト項目抽出手段とを有することを特徴とするテスト項目抽出システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (4件)：
5B042HH17
, 5B042HH19
, 5B042HH49
, 5B042MC30
