特許

J-GLOBAL ID：200903013632022638

有限要素法を用いた構造体の反り状態解析方法およびシステム、有限要素法を用いた構造体の反り状態解析プログラムを記録した記録媒体

発明者： 石橋 正博
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 若林 忠 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-236130
公開番号（公開出願番号）：特開平11-085812
出願日： 1997年09月01日
公開日（公表日）： 1999年03月30日
要約：

【要約】【課題】 設計の現場で混乱を招くことなく、構造物を製造する以前に構造物に生じる反り状態を解析する。【解決手段】 入力された構造物データをもとに、その構造物の解析モデルを作成する(S2)。求めたい解析条件下で解析モデルの有限要素法解析を行い(S3)、反りが生じた解析モデルにおける解析対象点の変位を検出する(S4)。検出された解析対象点の変位から、解析モデルに生じる反りの曲率を算出する(S5)。

請求項（抜粋）：

解析対象である構造物の解析モデルを作成するステップと、前記解析モデルに解析対象点を定め、求めたい解析条件下で前記解析モデルの有限要素法解析を行い、前記解析モデルに生じる反りによる前記解析対象点の変位量を検出するステップと、前記検出された前記解析対象点の変位量から、前記解析モデルに生じる反りの曲率を算出するステップとを有する構造体の反り状態解析方法。

IPC (5件)：

G06F 17/50 ,  G01B 21/32 ,  G06F 17/00 ,  H01L 21/00 ,  G06F 17/13

FI (5件)：

G06F 15/60 612 G ,  G01B 21/32 ,  H01L 21/00 ,  G06F 15/20 D ,  G06F 15/328

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 有限要素法を用いた接触解析方法及びそのシステム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-326184   出願人：日本電気株式会社