特許
J-GLOBAL ID:200903013778707055
蛍光体含有組成物、発光装置、照明装置、および画像表示装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
長谷川 曉司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-193781
公開番号(公開出願番号):特開2008-050593
出願日: 2007年07月25日
公開日(公表日): 2008年03月06日
要約:
【課題】 発光装置に充填する工程において、硬化するまでの間の蛍光体の沈降が抑制される蛍光体含有組成物を提供する。 【解決手段】 シリカ微粒子、蛍光体、および液体媒体を含有する蛍光体含有組成物であって、下記の水酸基濃度測定方法(I)で測定される前記シリカ微粒子の水酸基濃度が0.3個/nm2以上、2個/nm2以下であることを特徴とする蛍光体含有組成物。 水酸基濃度測定方法(I) (1)シリカ微粒子の1g当たりの比表面積a(m2/g)をBET法により測定する。(2)シリカ微粒子1gを10-2hPaの真空中で100°C、1時間乾燥した後、ジエチレングリコールジメチルエーテル1L中でLiAlH410gと反応させ、発生したH2量b(ml)を定量する。 (3)下記式により水酸基濃度を算出する。 水酸基濃度(個/nm2)=(6×1023×b)/(22400×a×1018) 【選択図】 なし
請求項(抜粋):
シリカ微粒子、蛍光体、および液体媒体を含有する蛍光体含有組成物であって、下記の水酸基濃度測定方法(I)で測定される前記シリカ微粒子の水酸基濃度が0.3個/nm2以上、2個/nm2以下であることを特徴とする蛍光体含有組成物。
IPC (6件):
C09K 11/02
, C09K 11/08
, C09K 11/59
, H01L 33/00
, H05B 33/12
, H05B 33/14
FI (7件):
C09K11/02 Z
, C09K11/08 G
, C09K11/59
, H01L33/00 N
, H01L33/00 H
, H05B33/12 E
, H05B33/14 Z
Fターム (37件):
3K107AA05
, 3K107BB01
, 3K107BB02
, 3K107CC45
, 3K107DD53
, 3K107DD54
, 3K107DD56
, 3K107DD70
, 3K107EE25
, 3K107FF14
, 4H001CA01
, 4H001CC11
, 4H001XA07
, 4H001XA08
, 4H001XA13
, 4H001XA14
, 4H001XA20
, 4H001XA21
, 4H001YA58
, 4H001YA63
, 5F041AA05
, 5F041AA11
, 5F041AA41
, 5F041CA40
, 5F041DA01
, 5F041DA07
, 5F041DA12
, 5F041DA19
, 5F041DA36
, 5F041DA43
, 5F041DA58
, 5F041DB01
, 5F041DC07
, 5F041DC22
, 5F041DC83
, 5F041EE25
, 5F041FF11
引用特許: