プログラムの容易な自動テスト機器

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：社本一夫 (外5名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-530604
公開番号（公開出願番号）：特表2003-532168
出願日： 2000年10月12日
公開日（公表日）： 2003年10月28日
要約：

【要約】本発明は、自動テスト機器(ATE)を使用して装置をテストするテスト手順を提供する技術を対象とする。ATEシステムは、テストアプリケーションが格納されたメモリと、装置に接続するテストインタフェースと、メモリおよびテストインタフェースに結合されるプロセッサと、を備える。プロセッサは、テストアプリケーションに従って動作して、(i)装置テストタスクを定義するテスト手順に基づいて一連の命令を提供し、(ii)装置をテストするために、提供された一連の命令に基づいてテストインタフェースを制御するように構成される。テスト手順は、複数のテスト要素を含む。各テスト要素は、プロセッサに装置テストタスクの特定のテスト動作を実行するように指示する命令およびプログラマブル入力変数を定義する。ATEシステムのユーザは、テスト手順を作成する場合、初めからコードを書いたり、予め書き込まれたテンプレートのコードを変更するのではなく、テスト要素を組み合わせる。したがって、ユーザは、プログラミング言語または下位レベルのATEコンポーネント詳細についての知識を保有する必要がない。

請求項（抜粋）：

テストアプリケーションを記憶したメモリと、装置に接続されるテストインタフェースと、前記メモリおよび前記テストインタフェースに結合されるプロセッサであって、前記テストアプリケーションに従って動作して、 i)装置テストタスクの特定のテスト動作を実行するように前記プロセッサに指示する命令およびプログラマブル入力変数をそれぞれ定義する複数のテスト要素を含む、装置テストタスクを定義するテスト手順に基づいて一連の命令を提供し、 ii)前記装置をテストするために、前記提供された一連の命令に基づいて、前記テストインタフェースを制御する、ように構成されるプロセッサと、を備える、装置をテストするシステム。

IPC (3件)：

G06F 11/22 310 , G06F 11/22 , G01R 31/28

FI (3件)：

G06F 11/22 310 A , G06F 11/22 310 V , G01R 31/28 H

Fターム (13件)：

2G132AA01 , 2G132AA20 , 2G132AB01 , 2G132AD01 , 2G132AE16 , 2G132AE18 , 2G132AE23 , 2G132AG02 , 2G132AH07 , 2G132AL09 , 5B048CC07 , 5B048DD03 , 5B048FF05

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開平4-218843
特開平3-090983
ICテストシステム
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-308959 出願人：株式会社アドバンテスト

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