特許
J-GLOBAL ID：200903014161381213
波長分散測定装置及びその方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大菅 義之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-240594
公開番号（公開出願番号）：特開2002-055025
出願日： 2000年08月09日
公開日（公表日）： 2002年02月20日
要約：
【要約】【課題】部品点数が少なく、光SNRの問題を生じない波長分散測定装置を提供する。【解決手段】周波数f1 の高周波に、周波数fm の低周波を重畳し、周波数fsの光を変調して、波長分散測定光として伝送路24に送出する。受信側で、波長分散測定光に局部発振光を合波し、ヘテロダイン検波する。ヘテロダイン検波した波長分散測定光の内、周波数fs を変調したことによって生じたサイドバンドをバンドパスフィルタ28-1、28-2で抽出し、これらの位相差を検出することによって、伝送路24の波長分散値を算出する。
請求項（抜粋）：
光源から出力される光を変調する変調手段と、該変調された光を波長分散測定光として伝送路に送出する送出手段と、該伝送路を伝搬した変調光を受光する受光手段と、該受光された変調光から、変調光のサイドバンド信号を抽出するフィルタ手段と、該サイドバンド信号の異なる周波数帯成分の位相差を検出する位相差検出手段と、を備え、該位相差から該伝送路の波長分散値を算出することを特徴とする波長分散測定装置。
IPC (3件)：
G01M 11/02
, G01J 9/04
, G02F 2/00
G01M 11/02 K
, G01J 9/04
, G02F 2/00
