特許
J-GLOBAL ID：200903014590542675
変調・高速時間分解分光法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 曉司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-214931
公開番号（公開出願番号）：特開2001-041889
出願日： 1999年07月29日
公開日（公表日）： 2001年02月16日
要約：
【要約】【課題】 電場などを変調した高速時間分解分光測定を行う。電場変調での蛍光測定などに利用し、材料解析や品質検査などを行う。【解決手段】試料にパルスレーザービームを照射し、該試料からの光信号を高速光検出器で測定する時間分解分光法において、照射ビームを光路差を有する複数のビームに分割し、各ビームを同一の周期で交互に遮断した後、再びビームを同軸上に重ねて試料に照射するとともに、前記ビーム遮断周期と同期した変調場(矩形波電場など)を試料に印加し、試料からの光信号(蛍光など)を高速光検出器(ストリークカメラなど)によって測定することを特徴とする変調高速時間分解分光法。
請求項（抜粋）：
試料にパルスレーザービームを照射し、該試料からの光信号を高速光検出器で測定する時間分解分光法において、照射ビームを光路差を有する複数のビームに分割し、各ビームを同一の周期で交互に遮断した後、再びビームを同軸上に重ねて試料に照射するとともに、前記ビーム遮断周期と同期した変調場を試料に印加し、試料からの光信号を高速光検出器によって測定することを特徴とする変調高速時間分解分光法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/64 B
, G01J 11/00
2G043EA01
, 2G043FA03
, 2G043GA02
, 2G043GA07
, 2G043GB11
, 2G043GB12
, 2G043GB21
, 2G043HA09
, 2G043HA12
, 2G043JA01
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G043LA07
, 2G065AA04
, 2G065AA12
, 2G065AB09
, 2G065AB11
, 2G065AB14
, 2G065BA01
, 2G065BA23
, 2G065BB21
, 2G065BB37
, 2G065BC21
, 2G065BC22
, 2G065BE03
出願人引用 (5件)
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特開昭55-152442
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特公昭55-036940
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特開平2-268255
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審査官引用 (5件)
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特開昭55-152442
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特公昭55-036940
-
特開平2-268255
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