特許
J-GLOBAL ID:200903014671951677
発光試験測定用のアッセイプレート、リーダシステム及び方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
浅村 皓
, 浅村 肇
, 安藤 克則
, 池田 幸弘
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-508145
公開番号(公開出願番号):特表2004-534226
出願日: 2002年06月28日
公開日(公表日): 2004年11月11日
要約:
一体型電極を有するアッセイモジュールを使用して、アッセイモジュールを受け取り、アッセイモジュールのウエル又はアッセイ領域中で発光、好ましくは電極誘起発光を誘起し、誘起された発光を測定するように適合されたリーダ機器によって発光試験測定を行う。
請求項(抜粋):
プレート底部を備える発光アッセイを行うためのマルチウエルプレートであって、前記プレート底部が、その上にパターン化した一緒にアドレス可能な各電極からなる独立にアドレス可能な各セクタを含む、マルチウエルプレート。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (4件):
2G054BB06
, 2G054EA01
, 2G054GA09
, 2G054GE07
引用特許:
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