特許

J-GLOBAL ID：200903014755533862

薄膜試験片構造体、その製造方法、その引張試験方法及び引張試験装置

発明者： 生津 資大 ,  長井 悠宰
出願人/特許権者： 兵庫県
代理人 (1件)： 特許業務法人 有古特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-335667
公開番号（公開出願番号）：特開2009-156725
出願日： 2007年12月27日
公開日（公表日）： 2009年07月16日
要約：

【課題】薄膜材料からなる試験片を用いて精度良く引張試験を行う。【解決手段】引張試験に用いられる薄膜試験片構造体1であって、試験対象部2a及びそれに連続する荷重伝達部2bが設けられた薄膜試験片2と、薄膜試験片2の試験対象部2aを除いた少なくとも一部を支持する支持部材3とを備え、支持部材3は、荷重伝達部2bに接合された試験片支持部3aと、薄膜試験片2と離隔した周囲に配置されたフレーム部3cと、試験片支持部3aをフレーム部3cに対して引張方向に相対変位可能に連結する弾性連結部3d,3eとを有している。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

引張試験に用いられる薄膜試験片構造体であって、 試験対象部及びそれに連続する荷重伝達部が設けられた薄膜試験片と、 前記薄膜試験片の前記試験対象部を除いた少なくとも一部を支持する支持部材とを備え、 前記支持部材は、前記荷重伝達部に接合された試験片支持部と、前記薄膜試験片と離隔した周囲に配置されたフレーム部と、前記試験片支持部を前記フレーム部に対して引張方向に相対変位可能に連結する連結部とを有していることを特徴とする薄膜試験片構造体。

IPC (4件)：

G01N 3/08 ,  G01N 3/00 ,  G01N 3/04 ,  G01N 1/28

FI (4件)：

G01N3/08 ,  G01N3/00 P ,  G01N3/04 P ,  G01N1/28 B

Fターム (18件)：

2G052AA13 ,  2G052EC14 ,  2G052GA03 ,  2G061AA01 ,  2G061AB03 ,  2G061BA01 ,  2G061BA04 ,  2G061CB01 ,  2G061CB20 ,  2G061CC01 ,  2G061CC12 ,  2G061DA01 ,  2G061DA16 ,  2G061EA01 ,  2G061EA02 ,  2G061EB03 ,  2G061EB05 ,  2G061EC06

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 2軸引張試験機
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-358915   出願人：株式会社島津製作所
• 薄板材料の二軸引張試験用つかみ治具および二軸引張試験方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-254792   出願人：日産自動車株式会社