特許
J-GLOBAL ID:200903014826162763
半導体装置の入出力端子制御回路
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
小栗 昌平
, 本多 弘徳
, 市川 利光
, 高松 猛
, 濱田 百合子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-273343
公開番号(公開出願番号):特開2005-031037
出願日: 2003年07月11日
公開日(公表日): 2005年02月03日
要約:
【課題】テスト時に入出力端子の連続切り替えを行う。【解決手段】外部端子116から供給される方向制御信号に基づいて入出力端子100に対する方向制御を行う方向制御用レジスタ106と、テスト対象ブロック202から供給される方向制御信号と外部端子から供給される方向制御信号とを選択するオアゲート111と、選択された方向制御信号に基づいて入出力端子100の入出力方向を切り替える出力側バッファ102及び入力側バッファ101とを備える。さらに、テスト対象ブロック202から供給される方向制御信号を外部端子から制御可能な制御信号選択用レジスタ113を備え、レジスタ106、113をそれぞれ同一スキャンチェーン上で接続する。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
半導体装置に含まれるテスト対象ブロックと入出力端子との接続を双方向に切り替える半導体装置の入出力端子制御回路であって、
外部から供給される方向制御信号に基づいて前記入出力端子に対する方向制御を行うレジスタと、
前記テスト対象ブロックから供給される方向制御信号と前記外部から供給される方向制御信号とを選択する選択手段と、
選択された方向制御信号に基づいて前記入出力端子の入出力方向を切り替える切り替え制御手段と、
を備える半導体装置の入出力端子制御回路。
IPC (3件):
G01R31/28
, H01L21/822
, H01L27/04
FI (3件):
G01R31/28 V
, H01L27/04 T
, G01R31/28 G
Fターム (18件):
2G132AA00
, 2G132AA17
, 2G132AB01
, 2G132AC14
, 2G132AK07
, 2G132AK15
, 2G132AK17
, 2G132AK22
, 2G132AL05
, 2G132AL09
, 5F038BE05
, 5F038DF01
, 5F038DF17
, 5F038DT02
, 5F038DT04
, 5F038DT05
, 5F038DT06
, 5F038DT15
引用特許:
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