特許

J-GLOBAL ID：200903014847045015

磁気方位測定装置

発明者： 相澤 学 ,  大沼 博
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (3件)： 小池 晃 ,  田村 榮一 ,  伊賀 誠司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-304990
公開番号（公開出願番号）：特開2004-138558
出願日： 2002年10月18日
公開日（公表日）： 2004年05月13日
要約：

【課題】演算手段や回転等のメカ的な動作を不要とし、また簡単な構成で量産性に影響を及ぼすことがなく、さらに高精度に方位を測定することができる磁気方位測定装置を提供する。【解決手段】条件判断回路8は、スイッチングされた出力信号が最大(正のピーク)となった事を検出したら、トリガ信号trを発生し、このトリガ信号trにより、出力インターフェース回路9がスイッチング信号を保持する。この出力インターフェース回路9で、保持されたスイッチング信号は、外部磁界Hに平行な検出コイル位置をディジタル的に表したものである。したがって、センサ素子に対する外部磁界Hの方位を知ることができる。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

指向性を有する2個以上の磁気検出素子を、それらの指向性が異なるように一定規則で等間隔に配置してなる磁気検出手段と、 上記磁気検出手段の各磁気検出素子からの電磁変換出力を順次スイッチングして取り出す取り出し手段と、 上記取り出し手段により順次スイッチングされて取り出された上記電磁変換出力が所定の条件となったか否かを判断する条件判断手段と、 上記条件判断手段の判断結果に基づいて磁気方位情報を出力する方位情報出力手段と を備えることを特徴とする磁気方位測定装置。

IPC (2件)：

G01R33/02 ,  G01C17/30

FI (2件)：

G01R33/02 L ,  G01C17/30 A

Fターム (10件)：

2G017AA03 ,  2G017AA16 ,  2G017AB09 ,  2G017AD04 ,  2G017AD05 ,  2G017AD42 ,  2G017AD53 ,  2G017AD55 ,  2G017BA05 ,  2G017BA13

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭60-014115
  
• 地磁気方位センサー
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-094990   出願人：ソニー株式会社
• 磁気センサ回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-220196   出願人：ジェコー株式会社
• 2軸フラックスゲート型磁気センサ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-172356   出願人：株式会社島津製作所