特許

J-GLOBAL ID：200903014932193090

測距モジュール

発明者： 安達 泉 ,  寺田 由孝 ,  倉橋 明 ,  富田 俊彦
出願人/特許権者： 浜松ホトニクス株式会社
代理人 (1件)： 長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-217552
公開番号（公開出願番号）：特開平11-063973
出願日： 1997年08月12日
公開日（公表日）： 1999年03月05日
要約：

【要約】【課題】 距離検出が困難な至近距離の被測定物体の存否を確認可能で、小型の測距モジュールを提供する。【解決手段】 本発明の測距モジュールは、PSD1と発光素子2、3を備えており、発光素子2の投射光は、その前面に配置された投光レンズ5により小径のスポット光に調整されて被測定物体に照射される。一方、発光素子3の投射光は、広角度の拡散光としてモジュール近接領域に照射される。それぞれの投射光の被測定物体からの反射光は、受光レンズ4と干渉フィルター6を介してPSD1に入射される。遠距離の被測定物体については、発光素子2を用いた三角測量方式により距離測定を行い、近距離の被測定物体については、発光素子3を用いた反射光量検知方式により物体の存否を検出することができる。

請求項（抜粋）：

光を被測定物体に投射して、被測定物体との距離を測定する測距モジュールにおいて、被測定物体表面に向けて小径のスポット光を照射する第1の発光素子と、近接域の広い角度範囲に対して光を照射する第2の発光素子と、前記第1の発光素子の光路上に配置された投光レンズと、前記第1の発光素子の光軸と垂直に配置される受光面を有し、前記各発光素子の照射光の前記被測定物体表面からの反射光を受光し、その光量に応じた電気信号を発生するとともに、入射光の受光面上での入射位置に応じた電気信号をあわせて出力する半導体位置検出素子と、前記半導体位置検出素子と被測定物体の間に配置され、被測定物体の反射光を前記半導体位置検出素子の受光面に集光する受光レンズと、前記第1及び第2の発光素子の発光動作を切り替え制御するとともに、前記第1の発光素子の発光時には、前記半導体位置検出素子の受光面での入射光の入射位置に応じた出力電気信号に基づいて、三角測量方式により被測定物体までの距離を算出し、前記第2の発光素子の発光時には、前記半導体位置検出素子の受光面への受光光量に応じた出力電気信号に基づいて、反射光量検知方式により所定距離内における被測定物体の存否を検出する演算回路と、を備える測距モジュール。

IPC (2件)：

G01C 3/06 ,  G01B 11/00

FI (3件)：

G01C 3/06 A ,  G01B 11/00 B ,  G01B 11/00 E

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平4-370710
  
• カメラの測距装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-178347   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 特開平4-370710