特許
J-GLOBAL ID:200903015023198536
偏心測定装置
発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-004214
公開番号(公開出願番号):特開2006-194626
出願日: 2005年01月11日
公開日(公表日): 2006年07月27日
要約:
【課題】 中空円筒の偏心測定装置において、確実でかつ高精度な偏心測定装置を実現することを可能とする。 【解決手段】 半導体レーザー投光装置9を被測定物1の出射面付近を照射する位置に設置する。被測定物1に当たった半導体レーザー光10は、光スペックルパターンを発生させる。このスペックルパターンをカメラ5で撮影し、画像処理検査装置6でこの画像を処理すれば、回転の有無を判定できる。カメラ5および画像処理検査装置6は偏心の測定にも利用できる。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
中空円筒の孔と外周の偏心を中空円筒を回転させながら孔画像をカメラで撮影し、該孔画像の位置の変化から偏心量を測定する装置において、前記中空円筒にレーザー光を照射しレーザー光による光スペックルの変化によって回転の有無を検出する手段を設けたことを特徴とする偏心測定装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (23件):
2F065AA00
, 2F065AA17
, 2F065AA61
, 2F065BB08
, 2F065BB22
, 2F065CC23
, 2F065FF04
, 2F065FF51
, 2F065FF56
, 2F065GG02
, 2F065GG06
, 2F065HH12
, 2F065JJ03
, 2F065JJ09
, 2F065JJ26
, 2F065LL02
, 2F065LL04
, 2F065LL30
, 2F065MM04
, 2F065PP13
, 2F065QQ31
, 2F065UU01
, 2F065UU05
引用特許:
出願人引用 (1件)
-
フェルール偏芯量測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-219540
出願人:株式会社モリテックス, 三和システムエンジニアリング株式会社
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