特許

J-GLOBAL ID：200903051283864161

フェルール偏芯量測定装置

発明者： 青 木 健 一 ,  鈴 木 務 ,  城 所 正
出願人/特許権者： 株式会社モリテックス ,  三和システムエンジニアリング株式会社
代理人 (2件)： 澤野 勝文 ,  川尻 明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-219540
公開番号（公開出願番号）：特開2004-061274
出願日： 2002年07月29日
公開日（公表日）： 2004年02月26日
要約：

【課題】転動ローラを短い移動距離でV溝の上方位置から完全に退避させることにより転動ローラの進退時間を短縮すると共に、フェルールのV溝へのセット作業及び測定終了したフェルールの回収作業を迅速、且つ、確実に行うことができるようにして、処理効率を向上させる。【解決手段】撮像光軸の前後方向及び上下方向に進退可能に配された2軸スライドテーブルの先端側に転動ローラを設けると共に、この転動ローラを撮像光軸の後方退避位置からV溝の真上まで前進させてその進出位置からフェルールに接触する作業位置まで降下させるテーブル駆動機構を備えた。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

略水平の撮像光軸に沿って形成されたV溝にフェルールをセットし、該フェルールに転動ローラを接触させて回転させながらその端面を撮像して光ファイバ挿通孔の偏芯量やフェルールに取り付けられた光ファイバコアの偏芯量を測定するフェルール偏芯量測定装置において、 前記V溝にセットされたフェルールを回転させるフェルール回転機構が、前記転動ローラを先端側に配すると共に前記撮像光軸の前後方向及び上下方向に進退可能に配された2軸スライドテーブルと、前記転動ローラを撮像光軸の後方退避位置からV溝の真上まで前進させてその進出位置からフェルールに接触する作業位置まで降下させるテーブル駆動機構を備えたことを特徴とするフェルール偏芯量測定装置。

IPC (2件)：

G01B11/00 ,  G02B6/36

FI (2件)：

G01B11/00 D ,  G02B6/36

Fターム (13件)：

2F065AA03 ,  2F065AA17 ,  2F065AA27 ,  2F065AA48 ,  2F065CC23 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ09 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ31 ,  2H036LA03 ,  2H036NA12 ,  2H036QA20

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 円筒状物体の寸法計測方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-031927   出願人：日本電信電話株式会社, エヌ・ティ・ティ・ファネット・システムズ株式会社
• フェルールの同軸度測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-266287   出願人：セイコー精機株式会社
• 寸法測定方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-401235   出願人：株式会社東京精密