特許
J-GLOBAL ID：200903015226556225

測定用電極装置

発明者：
小野木 一郎

小野木 一郎 について

, 
大沢 満男

大沢 満男 について


出願人/特許権者：
シーケーディ株式会社

シーケーディ株式会社 について


代理人 (1件)： 富澤 孝 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-209908
公開番号（公開出願番号）：特開平10-048253
出願日： 1996年08月08日
公開日（公表日）： 1998年02月20日
要約：
【要約】【課題】 電子素子のリード線の汚れを除去できる測定用電極装置を提供する。【解決手段】 絶縁性のガラスエポキシ基板からなるセパレータ板5の表面及び裏面に電解コンデンサー2のリード線3,4がそれぞれ載置され、カム板29の回動により、カムフォロワー28が案内され、上下一対設けられているアーム7の先端部7aが、各リード線3,4に向かって接近する。アーム7の先端部7a上の支点ブロック9に電極支持軸14により軸支された測定電極12の電極接点22は、リード線3,4上を接触摺動してリード線3,4上に付着した汚れを除去する。
請求項（抜粋）：
電子素子のリード線を載置するリード線載置部と、該リード線載置部に載置された前記リード線に対して離間、近接可能に移動するアーム部材と、該アーム部材に保持された電極部材と、該電極部材を前記リード線載置部に載置されたリード線に対して接触摺動させる電極摺動手段とを設けたことを特徴とする測定用電極装置。
IPC (4件)：
G01R 1/067 ,  B25J 15/08 ,  G01R 31/00 ,  H01G 13/00 361
FI (4件)：
G01R 1/067 F ,  B25J 15/08 D ,  G01R 31/00 ,  H01G 13/00 361 Z
引用特許：
審査官引用 (2件)

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