特許

J-GLOBAL ID：200903015582737099

光出力劣化検出回路

発明者： 井上 忠夫
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 井桁 貞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-050736
公開番号（公開出願番号）：特開平10-247876
出願日： 1997年03月05日
公開日（公表日）： 1998年09月14日
要約：

【要約】【課題】 光出力劣化検出回路に関し、バースト的データによる駆動下でも発光素子の光出力劣化を的確に検出できることを課題とする。【解決手段】 図1(A):モニタ信号生成回路はデータ信号で駆動される発光素子のモニタ光信号の平均値に比例するモニタ信号MSを生成し、基準信号生成回路はデータ信号の平均値に比例する基準信号RSを生成する。レベルシフト回路はモニタ信号と基準信号との間に所定のレベルシフトを加え、比較回路はこれらの比較により光出力劣化を検出する。図1(B):クランプ回路は入力の無信号時等におけるモニタ信号レベルが回路のアースレベルに近づかないよう所定レベルにクランプし、比較回路は両信号の比較により光出力劣化を検出する。上記何れの場合も入力の無信号時にはモニタ信号と基準信号間に所定のレベル差が存在し、よって光出力劣化の誤検出を有効に阻止できる。

請求項（抜粋）：

データ信号により駆動される発光素子のモニタ光信号の平均値に比例するモニタ信号を生成するモニタ信号生成回路と、前記データ信号の平均値に比例する基準信号を生成する基準信号生成回路と、前記モニタ信号と基準信号との間に所定のレベルシフトを加えるレベルシフト回路と、前記レベルシフトを加えられた関係の両信号の比較により光出力劣化を検出する比較回路とを備えることを特徴とする光出力劣化検出回路。

IPC (8件)：

H04B 10/08 ,  H01L 31/12 ,  H01L 33/00 ,  H04B 10/28 ,  H04B 10/26 ,  H04B 10/14 ,  H04B 10/04 ,  H04B 10/06

FI (4件)：

H04B 9/00 K ,  H01L 31/12 H ,  H01L 33/00 K ,  H04B 9/00 Y

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭55-110086
  
• 光/電気変換回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-122788   出願人：株式会社フジクラ
• 光送信器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-159156   出願人：富士通株式会社
• 光出力監視回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-054582   出願人：日本電気株式会社, 静岡日本電気株式会社