特許

J-GLOBAL ID：200903015609804028

半田付け検査装置

発明者： 北山 綱次 ,  足立 裕
出願人/特許権者： 株式会社豊田中央研究所 ,  トヨタ車体株式会社
代理人 (1件)： 守田 賢一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-064534
公開番号（公開出願番号）：特開平11-248639
出願日： 1998年02月26日
公開日（公表日）： 1999年09月17日
要約：

【要約】【課題】 照明切換えの手間を要さず、簡単な判定手順で確実に半田付け部の「穴空き」を検査することができる。【解決手段】 照明装置5は正常な半田付け部3からは反射光が殆ど得られない高角度で半田付け部3へ光を照射する。照明された半田付け部3の画像は撮像装置8によって撮像されて画像処理部61に送られる。半田付け部3に非貫通穴が存在していると、ここで高角度光が反射散乱されて撮像装置8に入力する。画像処理部61では、撮像装置8で得られた画像中に所定値以上の輝度値を示す所定面積以上の連続領域がある場合に「穴空き」有りと判定する。

請求項（抜粋）：

半田付け部の画像を得る撮像手段と、正常な半田付け部では撮像手段へ反射光が殆ど戻らない角度で前記半田付け部へ光を照射する照明手段と、前記撮像手段により得られた画像中に所定値以上の輝度値を示す所定面積以上の連続領域がある場合に「穴空き」有りと判定する判定手段とを具備する半田付け検査装置。

IPC (4件)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/30 ,  H05K 3/34 512

FI (4件)：

G01N 21/88 F ,  G01B 11/00 H ,  G01B 11/30 G ,  H05K 3/34 512 B

引用特許：

審査官引用 (3件)

• ディスクリート型電子部品のはんだ形態検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-349717   出願人：株式会社ロゼフテクノロジー
• 特開平4-113259
  
• 特開平4-282438