特許
J-GLOBAL ID:200903015627348790

金属表面欠陥検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大島 陽一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-012125
公開番号(公開出願番号):特開平7-198627
出願日: 1994年01月06日
公開日(公表日): 1995年08月01日
要約:
【要約】 (修正有)【目的】 周期的に発生するロール疵と散発的に発生するその他の疵が並存する場合、散発的に発生する微小な疵を過検出することなく、継続的に発生する微小なロール疵を確実に検出する。【構成】 検出した疵の種別を分類する疵分類手段と、疵の種別毎に欠陥の評価値を予め設定する評価値設定手段と、評価値のしきい値を予め設定する第1しきい値設定手段と、該第1しきい値設定手段に設定された第1しきい値を越えた評価値をもつ疵のみを抽出する疵抽出手段とを有すると共に、同一種類の疵が連続して発生した場合、位置ずれ量測定手段と、流れ方向についての疵の間隔ずれ量測定手段と、位置ずれ量と間隔ずれ量とが、予め設定された値以下の場合にのみその評価値を合計する評価値合計手段と、評価値合計値のしきい値を予め設定する第2しきい値設定手段と、第2しきい値とを比較する比較手段とを有するものとする。
請求項(抜粋):
帯状に圧延された鋼板等の表面欠陥を検査する装置であって、検出した疵の種別を分類する疵分類手段と、前記疵の種別毎に欠陥の評価値を予め設定する評価値設定手段と、前記評価値のしきい値を予め設定する第1しきい値設定手段と、該第1しきい値設定手段に設定された第1しきい値を越えた評価値をもつ疵のみを抽出する疵抽出手段とを有することを特徴とする金属表面欠陥検査装置。
IPC (2件):
G01N 21/89 ,  G01B 11/30
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特公昭45-028275
  • 欠陥検出方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-144402   出願人:松下電器産業株式会社

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