特許

J-GLOBAL ID：200903015737428705

形状計測装置

発明者： 柴田 進 ,  石榑 克範 ,  佐藤 幸男
出願人/特許権者： シーケーディ株式会社 ,  佐藤 幸男
代理人 (1件)： 富澤 孝 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-242031
公開番号（公開出願番号）：特開平8-075430
出願日： 1994年09月08日
公開日（公表日）： 1996年03月22日
要約：

【要約】【目的】 必要なメモリ容量を減少するとともに、高さの値を予め格納したメモリを備えることにより計測時間を短縮した形状計測装置を提供すること。【構成】 レーザ光源1と、偏向照射装置3と、撮像手段6とを有する形状計測装置において、二値化手段12により二値化された撮像データを空間コードデータとして記憶する記憶手段14と、二値化手段12から新たに提供されるデータと記憶手段14に既に記憶されているデータとの論理演算により記憶手段14を更新する更新手段13とを設けた。また、全ての空間コードデータと全ての座標データとに対応する高さの値を予め格納した変換手段16を設け、形状計測を高速化した。

請求項（抜粋）：

レーザ光を発生するレーザ光源と、前記レーザ光を被測定面に置いた被測定物体に向けて偏向走査する偏向照射装置と、前記レーザ光の照射により被測定物体の表面に生じる映像を撮像する撮像手段とを有する形状計測装置において、前記撮像手段による撮像データを二値化する二値化手段と、前記二値化手段により二値化されたデータを空間コードデータとして記憶する記憶手段と、前記二値化手段から新たに提供されるデータと前記記憶手段に既に記憶されているデータとの論理演算により前記記憶手段を更新する更新手段と、前記撮像手段の撮像面上の位置に基づき座標データを発生する座標データ発生手段と、前記空間コードデータと前記座標データとに基づき高さの値を算出する演算手段とを有することを特徴とする形状計測装置。

IPC (2件)：

G01B 11/24 ,  G06T 7/00

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 形状計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-128889   出願人：佐藤幸男
• 特開平4-055710
  
• 特開昭63-154912