計測用撮像装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：小谷悦司 , 伊藤孝夫 , 樋口次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-238534
公開番号（公開出願番号）：特開2007-053659
出願日： 2005年08月19日
公開日（公表日）： 2007年03月01日
要約：

【課題】高精度なスミア補正を行う。【解決手段】撮像センサ2の構成画素がマスクされてなる光学的遮光領域としてのOB部25(遮光部)と、OB部25の画素出力情報に基づき作成されたスミア補正時のリファレンスデータとして用いるスミアリファレンスと、OB部25における欠陥画素情報及び各構成画素の暗時出力特性情報とを記憶する画像メモリ9と、画像メモリ9に記憶されている欠陥画素情報及び暗時出力特性情報に基づいて、欠陥画素及び暗時出力特性によるスミアリファレンスに対する影響を該スミアリファレンスから除外するスミアリファレンス補正を行う画像処理部5とを備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

CCDを用いて所定の計測対象を撮影する撮像センサを備え、該撮像センサによる撮影画像に発生したスミアの補正が可能に構成された計測用撮像装置であって、前記撮像センサの構成画素がマスクされてなる光学的遮光領域としての遮光部と、前記遮光部の画素出力情報に基づき作成されたスミア補正時のリファレンスデータとして用いるスミアリファレンスと、前記遮光部における欠陥画素情報及び各構成画素の暗時出力特性情報とを記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶されている欠陥画素情報及び暗時出力特性情報に基づいて、欠陥画素及び暗時出力特性による前記スミアリファレンスに対する影響を該スミアリファレンスから除外するスミアリファレンス補正を行う画像処理部とを備えることを特徴とする計測用撮像装置。

IPC (2件)：

H04N 5/335 , H01L 27/14

FI (2件)：

H04N5/335 P , H01L27/14 Z

Fターム (20件)：

4M118AA05 , 4M118AB01 , 4M118BA10 , 4M118BA13 , 4M118CA02 , 4M118FA06 , 4M118GB06 , 4M118GB09 , 4M118GB11 , 5C024AX01 , 5C024CX13 , 5C024CX23 , 5C024CX33 , 5C024GY01 , 5C024GZ40 , 5C024HX14 , 5C024HX28 , 5C024HX29 , 5C024HX30 , 5C024HX57

引用特許：

出願人引用 (1件)

特公昭56-35067号公報

審査官引用 (4件)

撮像装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-201349 出願人：オリンパス光学工業株式会社
撮像装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2004-012825 出願人：日本ビクター株式会社
複数倍率画像撮像装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-039792 出願人：株式会社ニレコ

全件表示

前のページに戻る