分析装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：岡田和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-132159
公開番号（公開出願番号）：特開平10-318836
出願日： 1997年05月22日
公開日（公表日）： 1998年12月04日
要約：

【要約】【課題】元素の同定精度を高める。【解決手段】指定手段6による複数元素の指定に対応して、指定された各指定元素が発するスペクトルの論理波長もしくは理論エネルギー値の位置を示す複数のマーカMを同時にプロファイルA上に重ね合わせて表示する表示指令を表示手段6に出力することで、複数の元素に対応したマーカMの同時表示を可能にした。

請求項（抜粋）：

分析操作によって得られるスペクトルのプロファイルを表示する表示手段と、分析対象全元素について、その元素が発するスペクトルの理論波長もしくは理論エネルギー値の位置データを記憶する記憶部と、任意の元素を指定する指定手段と、前記指定手段が指定した元素が発するスペクトルの理論波長もしくは理論エネルギー値の位置データを前記記憶部から読み出してその位置データに基づいて指定元素の理論波長もしくは理論エネルギー値の位置を示すマーカを作成したうえで、作成したマーカを前記プロファイル上に重ね合わせて表示する表示指令を前記表示手段に出力する表示制御手段とを備えており、かつ、前記表示制御手段は、前記指定手段による複数元素の指定に対応して、指定された各指定元素が発するスペクトルの論理波長もしくは理論エネルギー値の位置を示す複数のマーカを同時に前記プロファイル上に重ね合わせて表示する表示指令を前記表示手段に出力するものであることを特徴とする分析装置。

IPC (3件)：

G01J 3/02 , G01N 21/27 , G01N 23/223

FI (3件)：

G01J 3/02 R , G01N 21/27 Z , G01N 23/223

引用特許：

審査官引用 (6件)

特開昭63-118644
特開平4-343051
同軸形直衝突イオン散乱分光装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-037991 出願人：株式会社島津製作所

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