特許
J-GLOBAL ID：200903015904348905
粒径分布測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-029978
公開番号（公開出願番号）：特開2003-232718
出願日： 2002年02月06日
公開日（公表日）： 2003年08月22日
要約：
【要約】【課題】 測定対象試料の粒径分布測定に用いる条件として設定した値が、測定した資料に対して最適かどうかを的確に判断できるようにした粒径分布測定装置を提供する。【解決手段】 測定対象試料Sにレーザ光Lを照射することによって生ずる散乱光Lsを所定の角度毎に検出する複数の検出器5を備え、各検出器からの出力データDaに基づいて、測定対象試料Sの粒径分布Dcを求める粒径分布測定装置1であって、求められた粒径分布Dcから各検出器5の出力データDdを逆算し、各検出器5によって検出された出力データDaと逆算によって算出された各検出器5の出力データDd(Dd0 ,Dd+5,Dd-5)との一致度De(De0,De+5,De-5)の分布を妥当性情報として同一画面上に表示する妥当性表示機能を有する。
請求項（抜粋）：
測定対象試料に光を照射することによって生ずる回折光および/または散乱光を所定の角度毎に検出する複数の検出器を備え、各検出器からの出力に基づいて、測定対象試料の粒径分布を求める粒径分布測定装置であって、求められた粒径分布から各検出器の出力データを逆算し、各検出器によって検出された出力データと逆算によって算出された各検出器の出力データとの一致度の分布を妥当性情報として同一画面上に表示する妥当性表示機能を有することを特徴とする粒径分布測定装置。
引用特許：
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