特許

J-GLOBAL ID：200903016066677213

高減衰性物体のためのア-ティファクト補正

発明者： ジアング・シー
出願人/特許権者： ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
代理人 (1件)： 生沼 徳二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-127864
公開番号（公開出願番号）：特開2000-000236
出願日： 1999年05月10日
公開日（公表日）： 2000年01月07日
要約：

【要約】【課題】 計算機式断層撮影(CT)システムにおいて高減衰性物体によって発生するアーティファクトを補正する。【解決手段】 本発明では、補正アルゴリズムを用いる。一態様のアルゴリズムによれば、画像データからのCT数を用いて画像データにおいて高減衰性物体を識別する。各々の高減衰性物質ごとにセグメント化された画像データを用いて、各々の物質ごとに別個の成分画像を作成する。次いで、各々の物質ごとの成分画像データを別個に前方投影して、各々の物質ごとに投影データを作成する。次いで、各々の物質ごとの投影データを、物質の減衰特性について調節し、各々の物質ごとの投影誤差データを作成する。次いで、得られた投影誤差データをフィルタ処理及び逆投影して、誤差のみの画像データを作成する。次いで、誤差のみの画像データをスケーリングして元の画像データと組み合わせて、高減衰性物体アーティファクトを除去する。

請求項（抜粋）：

計算機式断層撮影システムで収集される画像データにおいて高減衰性物体により生ずるアーティファクトを補正する方法であって、前記高減衰性物体の各々の高減衰性物質ごとに減衰特性を決定する工程と、前記画像データにおいて前記高減衰性物体を識別する工程と、各々の高減衰性物体ごとに誤差のみの画像データを作成する工程とを有している前記方法。

IPC (4件)：

A61B 6/03 370 ,  A61B 6/03 360 ,  G06F 19/00 ,  G06T 1/00

FI (5件)：

A61B 6/03 370 E ,  A61B 6/03 360 D ,  G06F 15/42 X ,  G06F 15/62 390 B ,  G06F 15/64 400 E

引用特許：

出願人引用 (2件)

• X線CT装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-032734   出願人：株式会社日立メディコ
• もとの像データを強化するシステム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-285750   出願人：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ

審査官引用 (2件)

• X線CT装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-032734   出願人：株式会社日立メディコ
• もとの像データを強化するシステム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-285750   出願人：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ