特許
J-GLOBAL ID:200903016099498934
接触ピン
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
岩橋 文雄 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-270811
公開番号(公開出願番号):特開2001-091538
出願日: 1999年09月24日
公開日(公表日): 2001年04月06日
要約:
【要約】【課題】 良好な接触を有する接触ピンを得る。【解決手段】 導電性を有する筒体11と、この筒体11内に設けられたバネ13と、筒体11の先端部11a,11bに摺動可能に設けられるとともにバネ13で外側方向に押圧される導電性の接触部14あるいは17とを備え、接触部14,17には、筒体11内から接触ピン26の先端部15,18まで貫通した孔16,19を設けた構成としたものである。これにより良好な接触を得ることができる。
請求項(抜粋):
導電性を有する筒体と、この筒体内に設けられた弾性体と、前記筒体の端部に摺動可能に設けられるとともに前記弾性体で外側方向に押圧される導電性の接触部とを備え、前記接触部には前記筒体内から前記接触ピンの先端部まで貫通した孔を設けた接触ピン。
IPC (3件):
G01R 1/067
, G01R 1/06
, H01R 13/02
FI (3件):
G01R 1/067 C
, G01R 1/06 A
, H01R 13/02
Fターム (9件):
2G011AA04
, 2G011AA07
, 2G011AB01
, 2G011AB04
, 2G011AB07
, 2G011AC02
, 2G011AC13
, 2G011AC14
, 2G011AE01
引用特許:
審査官引用 (1件)
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配線基板検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-045442
出願人:株式会社三井ハイテック
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