配線基板検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：木村高久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-045442
公開番号（公開出願番号）：特開平11-242065
出願日： 1998年02月26日
公開日（公表日）： 1999年09月07日
要約：

【要約】【課題】検査箇所数が多数ある場合にも、容易に取り扱うことができ、作業性の向上を図ることのできる配線基板検査装置を提供することを解決課題とする。【解決手段】本発明では、パターン接触子(30)から導出される導電路を導電用配線基板(20)で構成している。

請求項（抜粋）：

被検配線基板に形成した配線パターンにパターン接触子を接触させることにより、該配線パターンの通電状態を検査するようにした配線基板検査装置において、前記パターン接触子から導出される導電路を導電用配線基板で構成したことを特徴とする配線基板検査装置。

IPC (4件)：

G01R 31/02 , G01R 1/06 , G01R 31/28 , H05K 3/00

FI (4件)：

G01R 31/02 , G01R 1/06 A , H05K 3/00 T , G01R 31/28 K

引用特許：

審査官引用 (3件)

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