特許
J-GLOBAL ID:200903016100909048
質量分析装置および質量分析方法
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
磯野 道造
, 多田 悦夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-291460
公開番号(公開出願番号):特開2009-115724
出願日: 2007年11月09日
公開日(公表日): 2009年05月28日
要約:
【課題】解離して質量分析すべき親イオンの種類を減らし、リアルタイムに分析の可能な質量分析装置および質量分析方法を提供する。【解決手段】試料10中に含まれる物質を分離しイオン化したイオン種中から選択した親イオンを解離した解離イオンの質量分析を行う質量分析部13と、質量分析部13で取得されるイオン種の質量対電荷比と前処理系で取得され複数のイオン種を識別可能な特性データとを記憶するデータベース7とを有し、質量分析部13では、解離イオンをイオン種に替えて親イオンの選択と解離イオンの質量分析を繰り返しながら、データベース7に基づいて識別できるイオン種でない親イオンを選択する質量分析装置1において、データベース7では、試薬により標識される物質がイオン化したイオン種の質量対電荷比と特性データとを複製し、複製された質量対電荷比を、試薬により物質が標識された場合の質量数の増減に基づいて書き換える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
試料中に含まれる複数の物質を分離する前処理系と、前記複数の物質をイオン化した複数のイオン種を生成するイオン化部と、前記複数のイオン種の中から親イオンを選択し前記親イオンを解離した複数の解離イオンの質量分析を行う質量分析部と、前記質量分析部で取得される前記複数のイオン種の質量対電荷比と前記前処理系で取得され前記複数のイオン種を識別可能な特性データとを記憶するデータベースとを有し、前記質量分析部では、前記複数の解離イオンを前記複数のイオン種に替えて前記親イオンの選択と前記解離イオンの質量分析を繰り返しながら、前記データベースに基づいて前記親イオンを前記選択する質量分析装置において、
制御部が、前記データベースにおいて、試薬により標識される前記複数の物質がイオン化した前記複数のイオン種の前記質量対電荷比と前記特性データとを複製し、複製された前記質量対電荷比を、試薬により前記複数の物質が標識された場合の質量数の増減に基づいて書き換えることを特徴とする質量分析装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (13件):
2G041CA01
, 2G041EA04
, 2G041EA13
, 2G041FA12
, 2G041FA13
, 2G041FA24
, 2G041FA25
, 2G041GA09
, 2G041HA01
, 2G041KA01
, 2G041LA05
, 2G041LA07
, 2G041MA02
引用特許:
出願人引用 (1件)
-
タンデム質量分析システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-314393
出願人:株式会社日立ハイテクノロジーズ
審査官引用 (4件)
-
質量分析方法及び質量分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-156508
出願人:株式会社日立ハイテクノロジーズ
-
質量分析方法及び質量分析システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-166728
出願人:株式会社日立ハイテクノロジーズ
-
質量分析システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願2006-081899
出願人:株式会社日立ハイテクノロジーズ
-
質量分析システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-152693
出願人:株式会社日立製作所, 株式会社日立ハイテクノロジーズ
全件表示
前のページに戻る