特許
J-GLOBAL ID：200903016160197748
X線検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
喜多 俊文 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-301634
公開番号（公開出願番号）：特開2003-107017
出願日： 2001年09月28日
公開日（公表日）： 2003年04月09日
要約：
【要約】【課題】 X線被曝の危険もなく、かつX線の絞りを行うラインセンサに対するスリットの調整作業が容易に行なえるX線検査装置を提供する。【解決手段】 X線発生器1からのX線をその照射領域内でかつX線発生器1から離れた設置板5に設置されたスリットSを介してライン状に形成し、被検査物17に照射して検査するX線検査装置であって、X線発生器1の支持台2に設けた照射孔PHに、X線をライン状にして絞り込みながらスリットSに案内する案内筒Tを吊設するとともに、設置板5にはスリットSの側方でスリットSと案内筒Tの間の周囲を包囲する防護壁Wを設置したものである。したがってスリットSのラインセンサ12に対する調整が容易である。
請求項（抜粋）：
X線発生器からのX線をそのX線照射領域内でかつ前記X線発生器から離れた設置面に設置されたスリットを介してライン状に形成し、被検査物に照射して被検査物を検査するX線検査装置において、前記X線発生器から発生するX線を前記スリットの近傍までライン状に絞り込んで案内する案内筒と、この案内筒と前記スリットとの間の周囲を包囲する防護壁を設けたことを特徴とするX線検査装置。
Fターム (13件)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA08
, 2G001HA13
, 2G001JA09
, 2G001KA03
, 2G001PA01
, 2G001PA06
, 2G001PA11
, 2G001SA01
, 2G001SA04
, 2G001SA14
