特許
J-GLOBAL ID：200903016267345383
光断層画像化装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
柳田 征史
, 佐久間 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-060505
公開番号（公開出願番号）：特開2007-240228
出願日： 2006年03月07日
公開日（公表日）： 2007年09月20日
要約：
【課題】光断層画像化装置において、干渉光の偏光状態の変化に起因する断層画像の画質の低下を防止する。【解決手段】測定対象Sからの反射光LSと参照光L2とが合波されて得られる干渉光L4は、導波手段である光ファイバFB4により干渉光検出手段40に導波される。干渉光検出手段40は干渉光L4を分光する分光器としての分光手段42を有する。光ファイバFB4と分光手段42との間に、光ファイバFB4により導波された干渉光L4の偏光状態を所定の偏光状態に設定して分光手段42に入射させる偏光設定手段41を設ける。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光を射出する光源と、
前記光源から射出された光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
前記測定光が測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、
前記合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を分光する分光器を有し、該分光器により分光された前記干渉光を検出する干渉光検出手段と、
前記合波手段から前記干渉光検出手段まで前記干渉光を導波する導波手段と、
前記干渉光検出手段により検出された前記干渉光から前記測定対象の断層画像を取得する断層画像取得手段と、を備えた光断層画像化装置において、
前記導波手段と前記分光器との間に、前記導波手段により導波された前記干渉光の偏光状態を所定の偏光状態に設定して前記分光器に入射させる偏光設定手段をさらに設けたことを特徴とする光断層画像化装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/17 625
, A61B1/00 300D
2G059BB12
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059FF02
, 2G059GG02
, 2G059JJ05
, 2G059JJ11
, 2G059JJ12
, 2G059JJ13
, 2G059JJ17
, 2G059JJ19
, 2G059JJ22
, 2G059KK01
, 2G059KK04
, 2G059MM01
, 2G059MM09
, 2G059PP04
, 4C061CC06
, 4C061FF46
, 4C061FF47
, 4C061HH51
出願人引用 (1件)
審査官引用 (5件)
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