特許
J-GLOBAL ID：200903016275993920

X線透視装置

発明者：
亀川 正之

亀川 正之 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 河▲崎▼ 眞樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-254191
公開番号（公開出願番号）：特開2002-062269
出願日： 2000年08月24日
公開日（公表日）： 2002年02月28日
要約：
【要約】【課題】 サンプルを360°にわたって回転させることなく、簡単な構成のもとに、かつ、短時間でサンプル内の形状既知の部位ないしは部材間の距離を正確に計測することのできるX線透視装置を提供する。【解決手段】 X線源1とX線カメラ2を結ぶ線C上に、その線Cに対して所定の角度をなす線Rを中心としてサンプルSを回転させる回転機構3を設け、その回転機構3による回転角度が互いに略180°相違した状態でのX線カメラ2によるX線透過情報を用いて、サンプルS内の2つの部位W1,W2間の距離を幾何学演算により算出する演算手段6を設けることにより、部位W1,W2がX線源1とX線カメラ2を結ぶ線Cに対して直交する面上になくても、その距離の計測を可能とする。
請求項（抜粋）：
X線源と、サンプルを任意の姿勢で固定する保持手段と、サンプルを透過したX線を検出するX線カメラを備えたX線透視装置において、上記X線源とX線カメラの中心を結ぶ線上に配置され、その線に対して所定の角度をなす線を中心として上記保持手段に固定されたサンプルを少なくとも略180°にわたって回転させる回転機構と、その回転機構による回転角度が互いに略180°相違した状態での上記X線カメラによるサンプルのX線透過情報を用いて、サンプル内の形状既知の2つの部位間の距離を幾何学演算により算出する演算手段を備えていることを特徴とするX線透視装置。
IPC (2件)：
G01N 23/04 ,  G01B 15/00
FI (2件)：
G01N 23/04 ,  G01B 15/00 A
Fターム (24件)：
2F067AA25 ,  2F067AA67 ,  2F067CC15 ,  2F067HH04 ,  2F067JJ03 ,  2F067KK06 ,  2F067LL02 ,  2F067LL16 ,  2F067NN04 ,  2F067RR24 ,  2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001GA03 ,  2G001GA05 ,  2G001GA13 ,  2G001HA13 ,  2G001JA06 ,  2G001JA08 ,  2G001JA20 ,  2G001KA20 ,  2G001LA11
引用特許：
出願人引用 (3件)
  • 特開昭61-288187
  • 特開平1-121742
  • X線検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-100350   出願人：株式会社日立製作所
審査官引用 (3件)
  • 特開昭61-288187
  • 特開平1-121742
  • X線検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-100350   出願人：株式会社日立製作所

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